4155B Agilent Halbleiter-Parameteranalysator
Der Agilent HP 4155B Semiconductor Parameter Analyzer bietet vier integrierte Quellen-/Überwachungseinheiten (SMUs), zwei Spannungsquelleneinheiten (VSUs) und zwei Spannungsüberwachungseinheiten (VMUs). Der HP 4155B eignet sich mit seinen Nicht-Kelvin-Anschlüssen, der 10-V-Auflösung und dem Messbereich von 100 mA/100 Ohm am besten für grundlegende Halbleiteranwendungen.
- Produkteinführung
Übersicht und Funktionen
Produktübersicht
Der Agilent HP 4155B Semiconductor Parameter Analyzer bietet vier integrierte Quellen-/Überwachungseinheiten (SMUs), zwei Spannungsquelleneinheiten (VSUs) und zwei Spannungsüberwachungseinheiten (VMUs). Der HP 4155B eignet sich mit seinen Nicht-Kelvin-Anschlüssen, der 10-V-Auflösung und dem Messbereich von 100 mA/100 Ohm am besten für grundlegende Halbleiteranwendungen.
Zu den weiteren Merkmalen und Spezifikationen des Agilent Semiconductor Parameter Analyzer gehören:
● Hohe Auflösung/Genauigkeit und große Reichweite. I: 1 fA bis 1 A (20 fA Offset-Genauigkeit), V: 1 µV bis 200 V
● Vollautomatische IV-Sweep-Messungen im Gleichstrom- oder Impulsmodus
● Erweiterbar auf bis zu 6 SMUs
● Synchronisierte Belastungs-/Messfunktion
● Zwei Hochspannungs-Impulsgeneratoreinheiten (±40 V)
● Zeitbereichsmessung: 60 µs – variable Intervalle, bis zu 10.001 Punkte
● Einfach zu bedienen: Knopfbewegung ähnlich einem Kurventaster
● Automatische Analysefunktionen
● Automatisierung: integriertes HP Instrument BASIC, Trigger-I/O-Funktionen
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